Dali technology 大立科技 VLD650 平面探测器
技术参数
型号 | VLD650 |
敏感材料 | VOx |
阵列规模 | 640×512 |
像元间距 | 17um |
光谱范围 | 8μm～14μm |
帧频 | 25～60Hz |
NETD(f/1,300K,50Hz) | 40mK |
可操作率 | ≥99.5% |
功耗（不含TEC） | 130mW |
外形尺寸（不含引脚等） | 32mm × 23.5mm × 7.1mm |
重量 | ≤20g |
工作温度范围 | -40℃～+85℃ |
贮存温度范围 | -40℃～+85℃ |
封装形式 | 金属 |
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