Oeabt 基座光学 TSX-ZL 纵向升降台
产品说明
• 交叉滚柱导轨，测微头驱动将平面进行Z轴升降；
• 纵向行程：8.5mm；
• 台面尺寸：63*63mm，螺孔阵列；
• 模块化设计，可进行 X、XY 或 XYZ 配置堆叠；
• M6沉孔可安装到公/英制的光学平台上；
TSX-ZL纵向升降台具有8.5mm的高度调节范围，台面高度从37.5mm到46mm。
| 型号 | TSX-ZL |
| 规格 | 63.0*63.0*37.5mm（不含测微头） |
| 台面尺寸 | 63.0*63.0mm |
| 行程范围 | 8.5mm |
| 精度 | 10μm/刻度（测微头最小读数） |
| 负载能力 | 4kgf |
| 螺孔类型 | M4*4处，M6*9处，M6*4处（沉头孔） |
| 重量 | 285.1g |
| 材质 | 7075铝合金 |
示意图
通用参数
TSX-ZL 纵向升降台
• 交叉滚柱导轨，测微头驱动将平面进行Z轴升降；
• 纵向行程：8.5mm；
• 台面尺寸：63*63mm，螺孔阵列；
• 模块化设计，可进行 X、XY 或 XYZ 配置堆叠；
• M6沉孔可安装到公/英制的光学平台上；
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位移台可以通过拧紧侧面的锁定旋钮来锁定位置。采用交叉滚柱轴承来支持运动负载，同时主体由铝板阳极氧化而成，大程度地消除了内部应力，提高了稳定性。
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