PUZHE蒲柘 55C-FG 金属覆盖层测量显微镜
产品概述
金属覆盖层测量55C-FG采用了光学显微镜与现代摄像成像融为一体的图像测量技术，通过检测横截面，以测量金属覆盖层、氧化膜层和釉瓷或玻璃搪瓷覆盖层的局部厚度。同时完全符合GB T 12334-2001金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则标准及对应IS0 2064:1996标准，GB T 6462-2005金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法及对应IS0 1463:2003。
产品特点：
1、采用光学显微镜与现代成像测量融为一体的图像测量技术
2、摄像系统配置了CCD数字摄像头，图像更清晰
3、实现了一键测量、一键保存。完全取代手工测量繁琐过程
规格参数
序号 | 名称 | 技术参数 |
01 | 三目金相显微镜XJ-55C | 50X-1000X |
02 | 数字摄像头PZ-500MG | 500万像素测量功能 |
03 | 品牌电脑（选购） | 内存4G或以上 |
04 | 精密切割机（选购） |
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05 | 镶嵌机（选购） | Φ25mm φ30mm 二选一 |
06 | 磨抛机（选购） |
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07 | 真空镶嵌机（选购 适合薄片陶瓷玻璃） |
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08 | 镶嵌粉砂纸 切割片 抛光布（选购） |
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